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Aeroespacial y armamento


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Control de calidad industrial| Izasa Scientific

Microscopía electrónica

JEOL_JSM-7800F_IzasaScientific

JSM-7800F

Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de ultra-alta resolución.

Equipado con un cañón de electrones cónico de alto brillo y una lente objetivo de baja aberración.

Este modelo le ofrece la más alta resolución al menor voltaje de todos los SEM del mercado, alcanzando una resolución de 0.8 nm a 15 kV y 1.2 a 1kV. La mejora de la estabilidad global del modelo JSM-7800F le permite observar 4 señales al mismo tiempo con una gran capacidad analítica.

La super lente híbrida (SHL) recientemente desarrollada se utiliza para conseguir la más alta resolución en SEM. La adopción del tipo cañón de electrones Schottky ofrece análisis estable con una alta corriente de la sonda. La reducción de las aberraciones cromáticas y esféricas mejora la resolución, especialmente a bajas tensiones de aceleración. La lente no introduce campos magnéticos en la zona de la muestra lo que lo convierte en el equipo ideal para la formación de imágenes de alta resolución de materiales magnéticos y análisis EBSD

Alta resolución en imagen superficial empleando el modo Gentle Beam
Mediante la aplicación de un voltaje de polarización a la muestra (ES), la velocidad de los electrones incidentes se reduce y la velocidad de los electrones liberados se incrementa. Esto permite obtener las imágenes de alta resolución con una buena relación señal-ruido incluso con energías muy bajas.
Adquisición de toda la información con cuatro detectores
El JSM-7800F incorpora 4 tipos de detectores, incluyendo un detector de electrones superior (UED), detector de electrones secundarios superior (USD), detector de electrones retrodispersados , y un detector de electrones inferior . Para los detectores en columna es posible controlar las señales de electrones secundarios/retrodispersados mediante el filtro de energía.Los detectores en la cámara permiten una imagen con mayor influencia de la topografía teniendo un aspecto de 3 dimensiones, incluyendo la información de rugosidad y de la superficie.

Este microscopio de barrido FEG, con sus extremadamente altas capacidades de obtención de imagen, es un instrumento superior para los campos de la nanotecnología, ciencia de materiales y biología.

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