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Industria electrónica


Los multiples campos de aplicación de la tecnología electrónica y la importancia de los mismos, hace que la instrumentacion relacionada con esta parte de la ingeniería, requiera unos altos estándares de calidad  y seguridad.

Control de calidad industrial| Izasa Scientific

Análisis de fallos

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JSM-7610F

Microscopio electrónico de barrido emisión de campo tipo schottky con lente objetivo cónica de baja aberración semi in lens.

Con el JSM-7610F, se puede observar fácilmente imágenes de alta resolución, incluso usuarios noveles, gracias a su cañón Schottky de emisión de campo (T-FEG) y la nueva interfaz de usuario. En particular, el sistema óptico equipado con un cañón FEG tipo schotkky puede producir un haz de electrones altamente enfocado incluso con una corriente de alta iluminación.


En el modo de observación de baja tensión convencional (modo GB), se pueden observar aislantes como la cerámica y muestras no conductoras como semiconductores. Con el detector opcional de electrones de retrodispersados de bajo ángulo, se puede observar la información en las proximidades de la superficie sin carga.

El microscopio incluye como estándar un detector en columna y un filtro de energía que permite seleccionar el tipo de señal para realizar imagen con este detector, además, el microscopio tiene una nueva característica que permite, simultáneamente, la observación en tiempo real de imágenes de hasta cuatro detectores. Como resultado, siempre se puede encontrar fácilmente la señal de imagen que se adapte a sus necesidades.

  • Muy resistente a las vibraciones del suelo y el ruido acústico, por lo que es muy adecuado para instalaciones en lugares comprometidos por estas circunstancias.
  • Su nueva interfaz de usuario ha sido diseñada para facilitar su manejo a aquellos usuarios sin experiencia en FE-SEM.
  • Modo económico (programación de estado inactivo) que permite ahorrar entre un 25% y un 55% de energía.
  • Alta calidad de imagen.
  • Resolución 1.0 nm a 15 kV; 1.3nm a 1kV
  • Corriente de soda 200nm a 15 kV.
  • Sistema de desaceleración del haz.
  • Detector en columna con filtro de energía.
  • Instrumento superior para los campos de la nanotecnología, ciencia de materiales y biología.

 

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Nanoprobing para SEM

Robots micromanipuladores para la caracterización de muestras.

Permiten la realizar medidas eléctricas en nanoescala y micromanipulacion con una alta precisión. Permiten el trabajo en vacío, por ejemplo en el interior de un SEM, o en condiciones ambientales y el traspaso de la plataforma de un microscopio electrónico a uno óptico.

Son compactos, portátiles y de fácil manejo.

Aplicaciones:

  • Caracterización in situ de materiales
  • Micro/nano handling
  • Medidas eléctricas
  • Preparación de muestras SEM/TEM
  • Test MENS/NEMS
  • Captación local de luz
  • Dispensador de líquidos

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